Máy kiểm tra tia X cho các khiếm khuyết bên trong Khám phá quá trình sản xuất pin prismatic

Các đặc điểm chính

Thuộc tính sản phẩm

Làm nổi bật

Máy phát hiện lỗi pin X-RAY

Thiết bị thử nghiệm tia X bằng pin prismatic

Máy kiểm tra dây chuyền sản xuất pin

Mô tả sản phẩm

Ⅰ"Tài liệu giới thiệu:
1.1 Khu vực sử dụng:
Thiết bị chủ yếu được sử dụng để quan sát các khiếm khuyết bên trong của sản phẩm trong ngành công nghiệp pin, sản xuất các bộ phận bán dẫn, chế biến sản phẩm điện tử, nền rắn,Bao bì sản phẩm điện tử, cung cấp điện và các ngành công nghiệp khác.
1.2 Giới thiệu về chức năng và nguyên tắc thiết bị:
Thiết bị phát ra tia X qua máy phát tia tia X và thâm nhập vào bên trong vật thể được thử nghiệm. Máy tăng cường hình ảnh nhận được tia X và chụp hình ảnh.Các khiếm khuyết của vật thể được thử nghiệm được xác định bằng tay theo hình ảnh.

ⅡCác thông số chính:

Điểm	Chi tiết
X-quangĐiện áp	Tối đa 90 kV
X-quangHiện tại	Max 200uA ((giá hạn phần mềm:Tối đa:89uA)
Thời gian bảo hành ống X quang	Thời gian bảo hành tích lũy≥6000h
Nâng cường hình ảnh	Bộ tăng cường hình ảnh 4 "
Độ phân giải hệ thống hình ảnh	75/110 lp/cm
Thời gian bảo hành của bộ tăng cường	Thời gian bảo hành tích lũy≥6000h
Số hệ thống hình ảnh	1tập hợp
X-CCD	≥ 1,3 triệu pixel
Độ chính xác thử nghiệm lặp lại	± 0,06mm ((Cách đo tấm tiêu chuẩn)
Tỷ lệ sử dụng thiết bị	≥98%
Kích thước sân khấu	510mm X 460mm
Phạm vi phát hiện hiệu quả	450mmX410mm
X Sự rò rỉ bức xạ	≤ 1,0 μSV/h(Sử dụng máy đo liều bức xạ được chứng nhận bởi bên thứ ba)
Cấu hình máy tính	Advantech, bộ vi xử lý i5, bộ nhớ 4G, ổ cứng 1TB, màn hình 21,5 inch
Phương pháp phát hiện:	Chế độ đo ngoại tuyến, điều hướng tự động, quan sát bằng tay và đánh giá bằng tay